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分光解析装置、分光解析方法、及び可読媒体
- 专利权人:
- 日本電気株式会社
- 发明人:
- 麻生川 稔
- 申请号：
- JP20170508806
- 公开号：
- JPWO2016157270(A1)
- 申请日:
- 2015.12.14
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 適切に試料を解析することができる分光解析装置、分光解析方法、及びプログラムを提供する。本発明の実施の形態にかかる分光解析装置は、複数の標識物質で標識された複数の物質を含む試料に照射する光を発生する光源(１３)と、試料に照射された光によって、試料が発生した観測光を分光する分光器（１４）と、分光器（１４）で分光された観測光を検出して、観測スペクトルデータを出力する検出器（１５）と、検出器（１５）から出力された観測スペクトルデータに基づいて、試料中に含まれる複数の物質を解析する処理部（１６）であって、複数の標識物質に対して設定された基準スペクトルデータとノイズ成分のデータを要素とする行列の一般化逆行列を用いて、試料に含まれる物質を解析する処理部（１６）と、を備えたものである。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
