The present invention diminishes the effect of moisture content percentage of a to-be-measured object when measuring a component concentration by means of dielectric spectroscopy. This component concentration measurement device is provided with: a dielectric spectroscopy unit 2 that obtains a complex dielectric constant spectrum by irradiating the to-be-measured object with electromagnetic waves； a signal processing unit 3 that, using the imaginary part of the complex dielectric constant in the frequency at an isosbestic point of the measured object in the complex dielectric constant spectrum, normalizes the imaginary part spectrum or the imaginary part of the complex dielectric constant in a frequency other than the frequency at the isosbestic point； and a computing unit 4 that computes the component concentration of the measured object by applying a calibration model, which has been previously created from an imaginary part spectrum or an imaginary part of a complex dielectric constant of a sample of which the component concentration is already known, to the imaginary part spectrum or the imaginary part of the complex dielectric constant that has been normalized by the signal processing unit.La présente invention réduit l'effet du pourcentage de teneur en humidité d'un objet à mesurer lors de la mesure d'une concentration de composant au moyen d'une spectroscopie diélectrique. Ce dispositif de mesure de concentration de composant comprend : une unité de spectroscopie diélectrique (2) qui obtient un spectre de constante diélectrique complexe par irradiation de l'objet à mesurer avec des ondes électromagnétiques； une unité de traitement de signal (3) qui, à l'aide de la partie imaginaire de la constante diélectrique complexe dans la fréquence à un point isosbestique de l'objet mesuré dans le spectre de constante diélectrique complexe, normalise le spectre de partie imaginaire ou la partie imaginaire de la constante diélectrique complexe dans une fréquence autre que
