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DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME DE MESURE
专利权人:
京セラ株式会社;KYOCERA CORPORATION
发明人:
HIGUCHI Daisuke,樋口大輔
申请号:
JPJP2017/024058
公开号:
WO2018/012312A1
申请日:
2017.06.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
The measurement device according to the present invention is provided with a light-emitting unit, a light-receiving unit, and a control unit. The light-emitting unit emits irradiation light to a region. The light-receiving unit detects scattered light from the region, the scattered light corresponding to the irradiation light. The control unit causes first irradiation light having a first intensity and second irradiation light having a second intensity lower than the first intensity to be emitted from the light-emitting unit. The control unit detects a predetermined signal on the basis of first scattered light detected by the light-receiving unit in accordance with the first irradiation light, and second irradiation light detected by the light-receiving unit in accordance with the second irradiation light.Le dispositif de mesure selon la présente invention est pourvu d'une unité d'émission de lumière, d'une unité de réception de lumière et d'une unité de commande. L'unité d'émission de lumière émet une lumière d'irradiation vers une région. L'unité de réception de lumière détecte la lumière diffusée depuis la région, la lumière diffusée correspondant à la lumière d'irradiation. L'unité de commande amène une première lumière d'irradiation ayant une première intensité et une deuxième lumière d'irradiation ayant une deuxième intensité inférieure à la première intensité devant être émise depuis l'unité d'émission de lumière. L'unité de commande détecte un signal prédéterminé sur la base de la première lumière diffusée détectée par l'unité de réception de lumière en fonction de la première lumière d'irradiation, et une deuxième lumière d'irradiation détectée par l'unité de réception de lumière en fonction de la deuxième lumière d'irradiation.測定装置は、発光部と、受光部と、制御部とを備える。発光部は、部位に対する照射光を射出する。受光部は、照射光に応じた、部位からの散乱光を検出する。制御部は、第1の強度の第1照射光と、第1の強度よりも低い第2の強度の第2照射光とを発光部から射出させる。制御部は、第1照射光に応じて受光部で検出される第1散乱光と、第2照射光に応じて受光部で検出される第2散乱光とに基づいて所定の信号を検出する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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