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MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD
专利权人:
富士電機株式会社;FUJI ELECTRIC CO LTD;国立大学法人九州大学;株式会社メイコー;MEIKO ELECTRONICS CO LTD;KYUSHU UNIV
发明人:
UCHIUMI HIDEO,内海 英雄,KAJIWARA HIDENORI,梶原 秀則,OKUBO YUJI,大久保 雄二
申请号:
JP2015091572
公开号:
JP2018121666A
申请日:
2015.04.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device which allows a rotation-type MRI device to be operated more safely while rotating a magnet of the rotation-type MRI device.SOLUTION: A measurement device includes a first magnets 112a and b provided in a first range on a circumference around a rotation shaft, a second magnets 114a and b provided in a second range different from the first range on the circumference around the rotation shaft, a driving part 170 for rotating the first magnet 112a and b, and the second magnets 114a and b around the rotation shaft, a measurement part 200 for measuring a measurement object placed in an installation position where, accompanying the rotation of the rotation shaft, a first magnetic field generated by the first magnets 112a and b, and a second magnetic field generated by the second magnets 114a and b are given respectively, and a control part 230 for changing a rotation speed of the rotation shaft according to the positions of the first magnets 112a and b, and the second magnets 114a and b with respect to the installation position while measuring the measurement object.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】回転型MRI装置の磁石を回転させながらより安全に装置を作動させる計測装置を提供する。【解決手段】回転軸を中心とする円周上の第1範囲に設けられた第1磁石112a、bと、回転軸を中心とする円周上の第1範囲とは異なる第2範囲に設けられた第2磁石114a、bと、第1磁石112a、bおよび第2磁石114a、bを回転軸を中心として回転させる駆動部170と、回転軸の回転に伴って第1磁石112a、bにより発生された第1磁場および第2磁石114a、bにより発生された第2磁場のそれぞれが与えられる設置位置に置かれた計測対象を計測するための計測部200と、計測対象の計測中において、設置位置に対する第1磁石112a、bおよび第2磁石114a、bの位置に応じて回転軸の回転速度を変化させる制御部230とを備える計測装置を提供する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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