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検査計画作成支援装置
专利权人:
HITACHI MEDICAL CORP
发明人:
KOIKE HIDEAKI,小池 秀明,TAKAHASHI KENTARO,高橋 健太郎
申请号:
JP2011001702
公开号:
JP2012143275A
申请日:
2011.01.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an examination planning support device which enables an operator to easily and intuitively understand burdens on a patient and facilitates flexible examination planning by calculating a cumulative exposed dose in consideration of recovery of tissue from exposure by examinations in the past and graphing the transition of the exposed dose.SOLUTION: The examination planning support device acquires exposed dose data and examination time and date data of respective examinations in the past, uses those data and an arithmetic expression related to the recovery of the tissue to calculate a recovery curve Ai indicating the transition of the exposed dose with the lapse of time for each examination, and displays the recovery curve Ai as a graph. Further, the examination planning support device displays each of objects indicating a predetermined upper limit value Z, the exposed dose Di of each time and an allowable dose Ki of each time in the graph of the recovery curve. On the basis of the recovery curve, the device obtains the optimum period of an examination in the future and displays the same in the graph, and sets and presents an imaging condition for not exceeding the upper limit value Z.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】過去の検査による被曝からの組織の回復を考慮して累積的な被曝線量を算出したり、被曝線量の推移をグラフ化することにより、操作者が患者負担を直感的に理解しやすく、より柔軟かつ容易に検査計画を作成することが可能な検査計画作成支援装置を提供する。【解決手段】検査計画作成支援装置は、過去の各検査の被曝線量データと検査日時データとを取得し、これらのデータと組織の回復に関する演算式とから、時間経過に伴う被曝線量の推移を表す回復曲線Aiを検査毎に算出して、グラフ表示する。また既定の上限値Z、各回の被曝線量Di、各回の許容線量Kiを示すオブジェクトをそれぞれ回復曲線のグラフ内に表示する。また、回復曲線に基づいて、未来の検査の最適期間を求めてグラフ内に表示したり、上限値Zを超えない撮影条件を設定して提示する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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