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Inspection support program, inspection support method and inspection support device
专利权人:
FUJITSU LTD;INSTITUTE OF PHYSICAL & CHEMICAL RESEARCH;国立研究開発法人理化学研究所;富士通株式会社;学校法人昭和大学;NATIONAL CANCER CENTER;国立研究開発法人国立がん研究センター;SHOWA UNIV
发明人:
小松 正明,吉田 裕之,酒井 彬,関沢 明彦,松岡 隆,浜本 隆二,KOMATSU MASAAKI,YOSHIDA HIROYUKI,SAKAI AKIRA,SEKIZAWA AKIHIKO,MATSUOKA TAKASHI,HAMAMOTO RYUJI
申请号:
JP2018157844
公开号:
JP2020028680A
申请日:
2018.08.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide an inspection support program, an inspection support method and an inspection support device capable of providing a site detection map capable of easily judging whether or not abnormalities are present.The inspection support program causes the computer to perform a process of detecting the position using the object detection technique for each of the plurality of ultrasonic inspection images acquired by scanning with respect to the object of inspection.The inspection support program causes the computer to execute the processing of displaying a position detection map corresponding to the scanning result of the plurality of positions included in the inspection object on the basis of the detection result.Diagram【課題】異常の有無が容易に判断可能な部位検知マップを提供できる検査支援プログラム、検査支援方法および検査支援装置を提供する。【解決手段】検査支援プログラムは、検査対象について走査により取得された複数の超音波検査画像それぞれについて、物体検知技術を用いた部位の検知を行う処理をコンピュータに実行させる。検査支援プログラムは、検知結果に基づき、検査対象に含まれる複数の部位それぞれの検知結果を走査と対応付けた部位検知マップを表示する処理をコンピュータに実行させる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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