This invention relates to a method and device for calibrating the offset of an imaging system. The core idea of the invention is to place a reference object in the measurement chamber of the imaging system, measure the signals associated with the reference object at different points of time, calculate the merit function based on changes of the parameters representing the electromagnetic property of the reference object, and derive an optimal set of offset data that minimizes the value of the merit function for compensating the offset of the system in subsequent image reconstructions. In one embodiment, the invention uses a reference object comprising a non-conductive envelope and a cavity which can be filled with a conductive fluid and emptied, and in this way reduces the imaging interference caused by the reference object during monitoring.Cette invention porte sur un procédé et sur un dispositif de calibrage dun décalage dun système dimagerie. Lidée centrale de linvention est de placer un objet de référence dans la chambre de mesure du système dimagerie de mesurer les signaux associés à lobjet de référence à différents points dans le temps de calculer la fonction de mérite selon des changements des paramètres représentant la propriété électromagnétique de lobjet de référence et dobtenir un ensemble optimal de données de décalage qui rend minimale la valeur de la fonction de mérite pour compenser le décalage du système dans des reconstructions dimage ultérieures. Dans un mode de réalisation, linvention utilise un objet de référence comprenant une enveloppe non conductrice et une cavité qui peut être remplie et vidée dun fluide conducteur, ce qui réduit linterférence dimagerie provoquée par lobjet de référence durant la surveillance.
