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磁場計測装置
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
TAKAHASHI SATOSHI,高橋 智
申请号:
JP2011030537
公开号:
JP2012168078A
申请日:
2011.02.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic field measuring device capable of measuring a magnetic field from a test body in detail by arranging a plurality of cells.SOLUTION: The magnetic field measuring device includes a cell array 10 formed by including an atom group consisting of atoms excited by pump light and adjacently arranging a plurality of polyhedron cells having at least a first surface 101, a second surface, and a third surface 103 which transmit light. The first surfaces 101 of the respective cells incline in the same direction with respect to an installation surface, the second surface is adjacent to the first surface 101, and the third surface 103 faces the second surface. The magnetic field measuring device irradiates the first surface 101 of the respective cell with pump light and irradiates the second surface with probe light to intersect the pump light to receive probe light entered from the second surface of the respective cell and transmitted the third surface, and detects a magnetic field in the respective cell from the received probe light.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】複数のセルを配列して検体からの磁場を詳細に測定しうる磁場計測装置を提供する。【解決手段】磁場計測装置は、ポンプ光によって励起される原子からなる原子群を含み、光を透過させる第1の面101,第2の面,第3の面103を少なくとも有する多面体形状の複数のセルを隣接してなるセルアレイ10を有する。各セルの第1の面101は、設置面に対して同じ方向に傾斜しており、第2の面は第1の面101に隣接し、第3の面103は第2の面と対向している。磁場計測装置は、各セルの第1の面101にポンプ光を照射し、第2の面にポンプ光と交差するようにプローブ光を照射することで、各セルの第2の面から入射して第3の面103を透過したプローブ光を受光し、受光したプローブ光から各セルにおける磁場を検出する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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