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基于ICA融合算法来增强缺陷特征的方法
专利权人:
电子科技大学
发明人:
程玉华,殷春,陈怡帆,黄雪刚,白利兵,魏修岭,王伟
申请号:
CN201610321207.8
公开号:
CN106023176A
申请日:
2016.05.16
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
温利平
摘要:
本发明公开了一种基于ICA融合算法来增强缺陷特征的方法,通过遗传算法的加权融合、小波融合和Contourlet融合三种基于ICA融合算法来增强缺陷特征;具体的讲,在结合对比函数的同时,利用三种不同的原理方法分别来计算独立成分,再计算各独立成分的峰态系数,利用独立成分峰态系数与其他独立成分峰态系数的比值来判别缺陷特征,从而提高缺陷检测方法的多样性和检测结果的准确性。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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