基于遗传规划的模拟电路故障测试最优序贯搜索方法
- 专利权人:
- 电子科技大学
- 发明人:
- 杨成林,张贞
- 申请号：
- CN201610136480.3
- 公开号：
- CN105629156A
- 申请日:
- 2016.03.10
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 温利平`陈靓靓
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于遗传规划的模拟电路故障测试最优序贯搜索方法，首先根据模块电路的测试依赖矩阵随机生成若干个故障诊断树，采用遗传规划的方法对故障诊断树进行选择、交叉和变异，其中以故障诊断树所对应的测试代价的倒数作为该故障诊断树的个体适应度，根据故障诊断树的特点，在交叉过程中仅交换故障集结点及其子树，在变异过程中仅选择测点进行变异，重新生成该测点结点下的子树，经过多次迭代后从当前的若干个故障诊断树中选择测试代价最小的故障诊断树，作为最终故障诊断树。本发明可以准确搜索得到以最小测试代价隔离出最多的故障点的测点序列，为模块电路的故障测试提供指导。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
