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一种基于改进型克隆选择算法的模拟电路故障诊断方法
- 专利权人:
- 北京航天测控技术有限公司
- 发明人:
- 冯建呈,鲁刚,陈冰,陈斐,潘国庆,王宏伟,任大鹏,马晓娇
- 申请号：
- CN201310745818.1
- 公开号：
- CN103714385B
- 申请日:
- 2013.12.30
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 温子云`仇蕾安
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于改进型克隆选择算法的模拟电路故障诊断方法。首先，取消原判定算法根据经验确定各故障所属的诊断半径的判决规则，采用最小欧式距离作为诊断判决条件。这样不仅能消除了拒分、减少误分，还能减少多分，提高故障诊断率。其次，修改亲和度计算公式，用f＝1/(1+d)替换原来公式：f＝1/d。以此，避免计算溢出，而且也将亲和度规范在固定范围(0，1]，这样计算方便，亲和度的可比性也更强。最后，修改总体亲和度的计算方式，用种群中全部个体亲和度的平均值表示，替换之前按种群全部个体亲和度总和表示的方法。改进后的克隆选择算法已经应用于模拟电路故障诊断中，并表现出了优越的性能。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
