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OPHTHALMOLOGIC MEASUREMENT APPARATUS
专利权人:
NIDEK CO LTD;株式会社ニデック
发明人:
SHIMIZU KAZUNARI,清水 一成,KOBAYASHI SHIROHISA,小林 城久,NAKAMURA KENJI,中村 健二
申请号:
JP2018107311
公开号:
JP2019208856A
申请日:
2018.06.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To provide an ophthalmologic measurement apparatus which has a plurality of measurement units vertically and horizontally arranged in parallel to make it possible to excellently obtain distribution information of a cornea shape over a wide range on a cornea.SOLUTION: An ophthalmologic measurement apparatus 1 measures a plurality of eye properties of a subject eye E. The apparatus 1 includes: a first measurement unit 21 for measuring a first eye property different from a cornea shape through a first measurement axis L1; a second measurement unit 22 for measuring a second eye property L2 different from the cornea shape and the first eye property through a second measurement axis that is arranged so as to be parallel to the first measurement axis in vertical and horizontal directions; and a Placido unit 20 that projects a pattern index for measuring the cornea shape onto the cornea of the subject eye E from its front side facing the subject eye E. The Placido unit 20 has, on the front side, windows formed to allow the first measurement axis L1 and the second measurement axis L2 to respectively pass therethrough.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】複数の測定ユニットが上下左右方向に並列的に配置された装置において、角膜上の広範囲における角膜形状の分布情報を良好に得ることができる眼科測定装置を提供する。【解決手段】眼科測定装置1は、被検眼Eの複数の眼特性を測定する。装置1は、角膜形状とは異なる第1眼特性を、第1測定軸L1を介して測定する第1測定ユニット21と、角膜形状と第1眼特性とのいずれとも異なる第2眼特性を、第1測定軸L1の上下左右方向に並列的に配置される第2測定軸L2を介して、測定する第2測定ユニット22と、角膜形状を測定するためのパターン指標を、被検眼Eと対向する正面から被検眼Eの角膜へ投影するプラチドユニット20と、を有する。プラチドユニット20は、正面に第1測定軸L1と第2測定軸L2とを通過させるための窓部が各々の測定軸L1、L2と対応して形成されている。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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