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스트레스 측정 장치 및 스트레스 측정 방법
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
LEE, JOON HYUNGKR,이준형,KIM, SANG KYUKR,김상규,CHO, SEONG HOKR,조성호
申请号:
KR1020140110957
公开号:
KR1020160024306A
申请日:
2014.08.25
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
A device and method for measuring stress are disclosed. The device for measuring stress according to the present invention comprises: a light source emitting light to a subject a light measurement part measuring the light reflected from the subject a raw data extraction part extracting raw data associated with at least one target material included in the subject, from the information obtained by the light measurement part and a data processing part outputting information on stress of the subject from the raw data. According to the present invention, stress of a subject can be measured in a non-invasive means.COPYRIGHT KIPO 2016스트레스 측정장치 및 스트레스 측정방법이 개시된다. 개시된 스트레스 측정장치는, 피검체에 광을 조사하는 광원과, 상기 피검체로부터 나온 광을 측정하는 광 측정부와, 상기 광 측정부에서 측정된 정보로부터 상기 피검체에 포함된 적어도 하나의 대상물질과 관련된 로데이터를 추출하는 로데이터 추출부 및 상기 로데이터로부터 상기 피검체의 스트레스에 관한 정보를 출력하는 데이터 처리부를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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