用于X射线成像中的散射校正的方法和系统
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 吴小页,谢强,P.赛纳思,X.刘
- 申请号：
- CN201210220584.4
- 公开号：
- CN102846333A
- 申请日:
- 2012.06.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明的名称为用于X射线成像中的散射校正的方法和系统。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
