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一种CT探测器位置校准方法及其系统
专利权人:
深圳安科高技术股份有限公司
发明人:
曾凯,冯亚崇
申请号:
CN201811643694.5
公开号:
CN109512448A
申请日:
2018.29.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明公开了一种CT探测器位置校准方法及其系统,所述方法包括步骤:将采集的体模的投影数据进行重建得到重建图像;提取重建图像的伪影并判断伪影区域的伪影强度是否小于阈值;当伪影强度大于阈值时,校正探测器的位置并继续重建得到重建图像;当伪影强度小于阈值时,校准结束。由于采用伪影确定对应的探测器模块,并通过校正探测器模块的位置,进行图像校准,去除伪影。本发明是在软件上的算法来处理数据。在现有产品影像的基础上处理数据,来改善图像质量。本发明涉及的模体简单成本低,校准方法操作容易,校准时间快。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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