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PINCETTES À SEMI-CONDUCTEURS ET INSTRUMENTATION POUR UNE DÉTECTION ET UNE CARACTÉRISATION DE TISSU
专利权人:
CORNELL UNIVERSTY
发明人:
LAL, Amit,MICHELASSI, Fabrizio,CHEN, Po-cheng,WU, Connie
申请号:
USUS2014/050237
公开号:
WO2015/021333A1
申请日:
2014.08.07
申请国别(地区):
US
年份:
2015
代理人:
摘要:
Devices, systems, and techniques are disclosed for intelligent semiconductor based medical tweezers and instrumentation including microscale sensors, actuators and circuitry for tissue detection and characterization. In one aspect, a tweezer device includes a hinge structure to enable tweezing motion of the device for clamping a sample, two leg components coupled to the hinge structure, a plurality of microprobes configured on both of the two leg components, and an electronic circuit electrically coupled to the microprobes to process and/or transmit the electronic signals. The microprobes include sensors in a sensing tip structured to penetrate into the sample when the device clamps the sample and produce electronic signals from the sensors of a property of the sample, the sensors of the sensing tip including at least one of an electrode to measure an electrical potential, an electrical permittivity sensor to measure electrical permittivity, or a strain gauge to measure mechanical compliance.L'invention porte sur des dispositifs, des systèmes et des techniques pour des pincettes médicales à base de semi-conducteurs intelligents et une instrumentation comprenant des capteurs à microéchelle, des actionneurs et une circuiterie pour une détection et une caractérisation de tissu. Selon un aspect, un dispositif de pincette comprend une structure de charnière pour permettre un mouvement de pincement du dispositif pour serrer un échantillon, deux éléments de branche couplés à la structure de charnière, une pluralité de microsondes configurées sur les deux composants de branche, et un circuit électronique couplé électriquement aux microsondes pour traiter et/ou émettre les signaux électroniques. Les microsondes comprennent des capteurs dans une extrémité de détection structurée pour pénétrer dans l'échantillon lorsque le dispositif serre l'échantillon et produire des signaux électroniques en provenance des capteurs d'une propriété de l'échantillon, les capteurs de l'extrémit
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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