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荷電粒子線照射装置
专利权人:
住友重機械工業株式会社
发明人:
原 章文
申请号:
JP2011127580
公开号:
JP5700550B2
申请日:
2011.06.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a charged particle beam irradiation device capable of suppressing the decline of irradiation accuracy due to a rotation angle or a swing angle of a trestle without enlarging the trestle, and suppressing the decline of the irradiation accuracy in a scanning system.SOLUTION: The charged particle beam irradiation device 1 for irradiating a body to be irradiated with a charged particle beam R includes: an irradiation nozzle 6 which has a scanning magnet for scanning the charged particle beam R and irradiates the body to be irradiated with the scanned charged particle beam R a deflection magnet 5A which deflects the charged particle beam R sent from a cyclotron 2 to the irradiation nozzle 6 a rotating gantry 3 where the irradiation nozzle 6 and the deflection magnet 5A are arranged, and which is rotatable with a rotation axis P as a center a position detection part 8 which detects positional relation between the rotation axis P and an irradiation position of the charged particle beam R radiated from the irradiation nozzle 6 and a controller T which adjusts the irradiation position of the charged particle beam radiated from the irradiation nozzle 6 by utilizing a detection result of the position detection part 8 corresponding to the rotation angle of the rotating gantry 3.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】架台を大型化せず架台の回転角度や揺動角度による照射精度の低下を抑制し、スキャニング方式における照射精度の低下を抑制できる荷電粒子線照射装置を提供する。【解決手段】荷電粒子線Rを被照射体へ照射する荷電粒子線照射装置1であって、荷電粒子線Rを走査する走査磁石を有し、走査された荷電粒子線Rを被照射体へ照射する照射ノズル6と、サイクロトロン2より送られてきた荷電粒子線Rを照射ノズル6へ向けて偏向させる偏向磁石5Aと、照射ノズル6と偏向磁石5Aとが配置され、回転軸Pを中心に回転可能な回転ガントリ-3と、回転軸Pと照射ノズル6から照射される荷電粒子線Rの照射位置との位置関係を検出する位置検出部8と、回転ガントリ-3の回転角度に対応する位置検出部8の検出結果を利用して、照射ノズル6から照射される荷電粒子線の照射位置を調整する制御装置Tとを備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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