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微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置
- 专利权人:
- ソニー株式会社
- 发明人:
- 新田 尚,今西 慎悟,竹内 太一
- 申请号：
- JP20170172191
- 公开号：
- JP2018025559(A)
- 申请日:
- 2017.09.07
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】微小粒子の流路内の通流位置のばらつきによって生じる測定誤差を効果的に補正して、蛍光及び散乱光の強度及びスペクトルを高精度に測定することが可能な技術を提供する。【解決手段】流路Ｃを通流する微小粒子Ｐに光１を照射して微小粒子から発生する光を検出可能で、光の強度情報を取得する強度検出手順と、微小粒子の位置情報を取得可能な位置検出手順と、位置情報に基づいて強度情報を補正するデータ補正手順を有する。データ補正方法は、位置検出手順において、微小粒子から発生する散乱光から分離され、非点収差を与えられたＳ偏光成分５を検出器５１により受光し、該検出器におけるＳ偏光成分の受光位置を位置情報として取得する。【選択図】図１
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
