This system for measurement of a leaf area index includes: a first light source for irradiating a plant to be measured with a first wavelength light a second light source for irradiating the plant to be measured with a second wavelength light and an imaging means which is arranged on the opposite side of the first light source and the second light source with respect to the plant to be measured, images the plant to be irradiated and measured and outputs a captured image. The system for measurement of a leaf area index calculates, on the basis of the captured image output from the imaging means, a first transmittance amount indicating the degree of transmittance of light when the plant to be measured is irradiated with the first wavelength light, and a second transmittance amount indicating the degree of transmittance of light when the plant to be measured is irradiated with the second wavelength light, and calculates a leaf area index on the basis of a difference between the calculated first transmittance amount and second transmittance amount.Linvention concerne un système de mesure dun indice dune aire de feuille qui comprend : une première source de lumière permettant dexposer une plante à mesurer à une lumière de première longueur donde une seconde source de lumière permettant dexposer la plante à mesurer à une lumière de seconde longueur donde un moyen dimagerie qui est disposé du côté opposé à la première source de lumière et à la seconde source de lumière relativement à la plante à mesurer, réalise limage de la plante devant être exposée à la lumière et mesurée et délivre limage capturée. Le système de mesure dun indice dune aire de feuille calcule, sur la base de limage capturée délivrée par le moyen dimagerie, une première proportion de transmittance indiquant le degré de transmittance de la lumière lorsque la plante à mesurer est exposée à la lumière de première longueur donde, et une seconde proportion de transmittance indiquant le degré de transmittanc
