PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray apparatus and an X-ray measuring method which are capable of obtaining a scattering contrast image of an object.SOLUTION: The X-ray apparatus includes: a detector including a first pixel and a second pixel different from the first pixel for detecting an intensity of an X-ray flux passed through an object and an attenuation element for attenuating the intensity of the X-ray flux entering the second pixel in the X-ray flux. The X-ray apparatus also includes an arithmetic device that acquires object information including scattering information of the object from detection intensity of the X-ray flux detected by the first pixel and detection intensity of the X-ray flux detected by the second pixel. The apparatus is configured such that when the object is not disposed in an optical path of the X-ray flux, the X-ray flux is irradiated on a boundary between the first and second pixels.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 被検知物の散乱コントラスト像が取得可能なX線装置およびX線測定方法を提供する。【解決手段】 被検知物を透過したX線束の強度を検出するための、第1の画素と該第1の画素とは異なる第2の画素とを有する検出器と、X線束のうち、第2の画素に入射するX線束の強度を減衰させる減衰素子を有する。また、第1の画素で検出されたX線束の検出強度と、第2の画素で検出されたX線束の検出強度から、被検知物の散乱情報を有する被検知物の情報を取得する演算装置とを有する。また、X線束の光路中に被検知物が配置されていない場合、X線束は第1の画素と第2の画素の境界上に照射されるように構成される。【選択図】 図1
