The x-ray device includes an x-ray source and a x-ray detector, and a member configured to disturb the incident x-ray photons between them. The apparatus further comprises a processor and a second database of scattered radiation values representative of a first database, a material type and / or a material thickness, and a second database of values representative of a material type and a material thickness, Comparing an output signal with a value of the first database and outputting the most probable material and / or thickness from the first database； Selecting from the second database scattering radiation associated with the material type and / or material thickness； And to perform an algorithm to remove the scattering radiation from the output signal of the x-ray detector.x-선 장치는, x-선 소스와 x-선 검출기, 및 이들 사이에, 입사하는 x-선 광자를 교란시키도록 구성된 부재를 포함한다. 상기 장치는 물질 유형과 물질 두께를 나타내는 값의 제1 데이터베이스, 물질 유형 및/또는 물질 두께를 나타내는 산란 방사선 값의 제2 데이터베이스, 및 프로세서를 더 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 x-축 검출기의 출력 신호를 상기 제1 데이터베이스의 값과 비교하고, 상기 제1 데이터베이스로부터 가장 가능성 있는 물질 및/또는 두께를 출력하고； 물질 유형 및/또는 물질 두께와 관련된 산란 방사선을 상기 제2 데이터베이스로부터 선택하고； 상기 x-선 검출기의 출력 신호로부터 상기 산란 방사선을 제거하는 알고리즘을 수행하도록 구성된다.
