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顺序注射-HG-AFS法测定食品接触材料中痕量铅、镉、砷和锑迁移量的检测方法
- 专利权人:
- 浙江出入境检验检疫局检验检疫技术中心
- 发明人:
- 鲁丹,蒋永祥,王俊,赵珊虹,章晓氡,鲍晓霞,阮毅,邹学权
- 申请号：
- CN201110185610.X
- 公开号：
- CN102353662B
- 申请日:
- 2011.07.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 王从友
- 摘要：
- 本发明涉及食品接触材料中有害元素迁移量的检测方法，尤其涉及一种使用顺序注射-氢化物发生-原子荧光光谱法（HG-AFS法）测定食品接触材料中铅、镉、砷和锑迁移量的检测方法。该方法包括以下的步骤：一、迁移试验；二、食品模拟物试液的处理；三、空白试验；四、顺序注射-氢化物发生-原子荧光光谱法测定。本发明采用L-半胱氨酸为预还原剂，或采用直接稀释法消除4%乙酸基体对原子荧光法测定铅及镉的严重抑制干扰，可以高效、简便、快速的测定食品接触材料中砷和锑的迁移量及铅、镉的迁移量。本发明只需要进行简单前处理就可以检测四种有害元素迁移量，铅、镉、砷和锑的测定低限分别为0.010,0.010,0.010,0.010mg/L。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
