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顺序注射-HG-AFS法测定食品接触材料中痕量铅、镉、砷和锑迁移量的检测方法
专利权人:
浙江出入境检验检疫局检验检疫技术中心
发明人:
鲁丹,蒋永祥,王俊,赵珊虹,章晓氡,鲍晓霞,阮毅,邹学权
申请号:
CN201110185610.X
公开号:
CN102353662A
申请日:
2011.07.05
申请国别(地区):
中国
年份:
2012
代理人:
王从友
摘要:
本发明涉及食品接触材料中有害元素迁移量的检测方法,尤其涉及一种使用顺序注射-氢化物发生-原子荧光光谱法(HG-AFS法)测定食品接触材料中铅、镉、砷和锑迁移量的检测方法。该方法包括以下的步骤:一、迁移试验;二、食品模拟物试液的处理;三、空白试验;四、顺序注射-氢化物发生-原子荧光光谱法测定。本发明采用L-半胱氨酸为预还原剂,或采用直接稀释法消除4%乙酸基体对原子荧光法测定铅及镉的严重抑制干扰,可以高效、简便、快速的测定食品接触材料中砷和锑的迁移量及铅、镉的迁移量。本发明只需要进行简单前处理就可以检测四种有害元素迁移量,铅、镉、砷和锑的测定低限分别为0.010,0.010,0.010,0.010mg/L。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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