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Data processing apparatus and data processing method for X-ray inspection, and X-ray inspection apparatus equipped with the apparatus
专利权人:
株式会社ジョブ
发明人:
山河 勉,山本 修一郎,小幡 義治,山▲さき▼ 雅志,岡田 雅宏
申请号:
JP2017514170
公开号:
JPWO2016171186A1
申请日:
2016.04.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
The type and properties of a substance can be identified with higher accuracy regardless of the thickness. The data processing device (12) processes count values for each X-ray energy region and each pixel that are irradiated from the X-ray tube (21), pass through the object, and detected by the photon counting type detection unit (26). To do. The device (12) includes means (35) for calculating an image of the object (OB) based on the count value, and means (35) for setting a region of interest on the image. Furthermore, this apparatus (12) is based on the means (35) for removing pixel information as a background of the substance existing in the region of interest from the image, and the X-ray energy region and the count value for each pixel in the region of interest. And means (35) for calculating the transmission characteristic specific to the X-ray of the substance as specific information for each pixel.物質の種類や性状を、厚さに無関係に、且つより高精度に同定可能にする。データ処理装置(12)は、X線管(21)から照射されて対象物を透過し且つ光子計数型検出ユニット(26)により検出されたX線のエネルギー領域毎且つ画素毎の計数値が処理する。この装置(12)は、計数値に基づいて対象物(OB)の画像を演算する手段(35)と、画像上に関心領域を設定する手段(35)とを備える。更に、この装置(12)は、画像から関心領域に存在する物質の背景となる画素情報を除去する手段(35)と、関心領域におけるX線のエネルギー領域毎且つ画素毎の計数値に基づいて、当該画素毎に物質のX線に対する固有の透過特性を固有情報として演算する手段(35)とを備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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