基于相移干涉测量法的光纤分析装置
- 专利权人:
- 佛特比奥公司
- 发明人:
- 谭宏,谭语山,陈段君,克丽斯塔·利娅·威特
- 申请号：
- CN200910151571.4
- 公开号：
- CN101639447B
- 申请日:
- 2004.11.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 孟锐
- 摘要：
- 本发明涉及一基于相移干涉测量法的光纤分析装置。本发明公开用于检测试样溶液中分析物(46)的存在或数量或结合速率的装置和方法。所述装置包括具有相隔大于50nm的距离“d”的第一(42)与第二(40)反射表面的光学组件(26)，其中所述第一表面由一分析物结合分子层(44)形成；和用于将一光束射到所述第一和第二反射表面上的光源(22)。当将所述组件置于分析物溶液中时，所述装置中的检测器(28)运行，以通过检测从所述第一和第二表面所反射的光波的相位移来检测因分析物至所述分析物结合分子的结合而引起的所述第一反射层的厚度变化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
