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超音波診断装置
专利权人:
HITACHI LTD
发明人:
CHONO TOMOAKI,長野 智章
申请号:
JP2015036118
公开号:
JP2016154770A
申请日:
2015.02.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an improved technique for setting a plurality of measurement points with respect to a measurement object in an ultrasonic image.SOLUTION: A measurement processing part moves a measurement point A in accordance with a users operation and moves a measurement line L so as to follow the movement of the measurement point A. The measurement processing part, for example, moves the measurement line L in parallel so as to pass through the measurement point A while maintaining the inclination of the measurement line L. The measurement processing part searches for a measurement point B within a search range along the measurement line L moved so as to pass through the measurement point A. The measurement processing part moves the searched measurement point B in accordance with the users operation.SELECTED DRAWING: Figure 4COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】超音波画像内の計測対象に対して複数の計測点を設定する改良技術を提供する。【解決手段】計測処理部は、ユーザ操作に応じて計測点Aを移動させると共に、計測点Aの移動に追従するように計測ラインLも移動させる。計測処理部は、例えば、計測ラインLの傾きを維持しつつ計測点Aを通るように計測ラインLを平行移動させる。さらに、計測処理部は、計測点Aを通るように移動された計測ラインLに沿った探索範囲内で計測点Bを探索する。そして、計測処理部は、探索した計測点Bをユーザ操作に応じて移動させる。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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