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RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEM APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING CHARACTERIZING AND/OR DIAGNOSING A TYPE OR NATURE OF SAMPLE OR A TISSUE SUCH AS AN ABNORMAL GROWTH
专利权人:
싱가포르국립대학교
发明人:
후앙, 지웨이
申请号:
KR1020177002888
公开号:
KR1020170039168A
申请日:
2015.07.02
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
The step of characterizing, identifying and / or diagnosing the type and / or properties of a sample or tissue, such as abnormal growths using Raman spectra, may be performed by using two distinct wavelength regions, such as FP and HW wavelength regions Analyzing distinguishable spectral sub-intervals within the Raman spectrum to confirm matching with one or more reference indicators in one or two wavelength regions; And characterizing, identifying, or diagnosing the type and / or nature of the sample or tissue based on the matching. The Raman spectra of the FP and HW regions can be detected or obtained simultaneously using a single diffraction grating.라만 스펙트럼을 사용하여 비정상 종양(abnormal growths)과 같은 샘플 또는 조직의 유형 및/또는 성질을 특성화, 식별, 및/또는 진단하는 단계는, FP 및 HW 파장 영역과 같이, 두 개의 구분되는 파장 영역의 라만 스펙트럼 내에 있는, 구분 가능 한 스펙트럼 서브 구간 들을 분석하여, 하나 또는 두 개의 파장 영역내의 하나 이상의 기준 지표와의 매칭를 확인하는 단계; 및 상기 매칭에 기초하여, 상기 샘플 또는 조직의 유형 및/또는 성질을 특성화, 식별 또는 진단하는 단계;를 구비한다. 상기 FP 및 HW 영역의 라만 스펙트럼은 단일 회절 격자를 사용하여 동시에 검출되거나 획득될 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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