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엑스선 디텍터 및 이의 휨 검출 시스템
专利权人:
VATECH EWOO HOLDINGS CO.; LTD.
发明人:
JEON, YU SUNGKR,전유성
申请号:
KR1020150145278
公开号:
KR1020170045563A
申请日:
2015.10.19
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention provides an X-ray detector bending detection system which comprises: an X-ray detector with flexible properties including a sensor panel a bending sensor provided in the X-ray detector, and varying a resistance value according to a bending degree of the X-ray detector a signal generation circuit for generating a bending signal corresponding to a change of the resistance value of the bending sensor and a bending information generation circuit for transmitting a bending information signal to an output apparatus by generating the bending information signal according to the bending signal.COPYRIGHT KIPO 2017본 발명은 센서패널을 포함하는 플렉서블 특성의 X선 디텍터와 상기 X선 디텍터 내에 구성되며, 상기 X선 디텍터의 휨 정도에 따라 저항 값이 가변되는 휨센서와 상기 휨센서의 저항 값의 변화에 따라 대응되는 휨신호를 발생시키는 신호발생회로와 상기 휨신호에 따라 휨정보 신호를 발생시켜 출력장치에 전송하는 휨정보발생회로를 포함하는 X선 디텍터 휨 검출 시스템을 제공한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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