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測定装置、AE測定システム、AE測定方法及びAE測定プログラム
专利权人:
SAITAMA UNIV
发明人:
KAGEYAMA KENSUKE,蔭山 健介
申请号:
JP2016191944
公开号:
JP2018054502A
申请日:
2016.09.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low-cost AE measuring system of which the power consumption can be reduced by efficiently compressing AE information.SOLUTION: A measurement instrument comprises: a measurement time extraction unit 12 which calculates a measurement time from a difference between a current time and a previous transmission time and converts the measurement time to a measurement time index corresponding to the number of elements of array data a signal measuring unit 14 which compares sampled data detected by a signal reading unit 11 with a threshold a signal parameter extraction unit 15 which, if the sampled data is larger than the threshold, reads signal waveform data only a predetermined number of times within a range of signal waveform recording length determined from the measurement time index and an AE determination unit 16 which compares the signal waveform data read by the signal parameter extraction unit 15 with respective reference values for signal level, noise level and SN ratio level to determine whether it is an AE signal or not.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】AE情報を効率よく圧縮することにより、AE測定システムの消費電力を抑えることの可能な低コストのAE測定システム等を提供する。【解決手段】現在時刻と前回の送信時刻の差から測定時間を算出し、測定時間を配列データの要素数に対応した測定時間インデックスに変換する測定時間抽出部12と、信号読み取り部11が検出したサンプリングデータと閾値とを比較する信号測定部14と、サンプリングデータが閾値より大きい場合、測定時間インデックスから定められる信号波形記録長の範囲内で、信号波形データを予め定めた取込回数だけ読み取る信号パラメータ抽出部15と、信号パラメータ抽出部15が読み取った信号波形データと、信号レベル、ノイズレベル及びSN比レベルのそれぞれの基準値を比較してAE信号か否か判定するAE判定部16を備える。【選択図】 図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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