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X線撮影装置
专利权人:
SHIMADZU CORP
发明人:
HIRASAWA SHINYA,平澤 伸也
申请号:
JP2014076256
公开号:
JP2015198398A
申请日:
2014.04.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray equipment which allows for appropriate leakage correction by determining the leak current value accurately.SOLUTION: An array amplifier reads the leak current value in a circuit board a plurality of times for each signal line (e.g., leakages LO11-L14, LO21-L24). When correcting a digital signal by using the leak current value, it is approximated, respectively, by approximation formulae F1(x), F2(x) where the reading time x is a variable, thus creating parameters for use in the correction from the results of approximation formulae. Consequently, even if the data, read while a thin film transistor (TFT) is turned off, varies with time, leakage correction can be carried out appropriately by determining the leak current value accurately from the results of approximation formulae F1(x), F2(x).COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】リーク電流値を正確に求めてリーク補正を適切に行うことができるX線撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】アレイアンプは、回路基板におけるリーク電流値を信号線ごとに複数回読み出す(例えばリークLO11~L14,LO21~L24)。リーク電流値を用いてデジタル信号を補正するにあたり、読み出し時間xを変数とした近似式F1(x),F2(x)でそれぞれ近似し、当該近似式の結果から補正に用いるパラメータを作成する。したがって、薄膜トランジスタ(TFT)がオフの状態で読み出されたデータが時間的に変動したとしても、上述した近似式F1(x),F2(x)の結果からリーク電流値を正確に求めてリーク補正を適切に行うことができる。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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