医学成像设备的晶体条位置校正方法
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技有限公司
- 发明人:
- 樊馨,唐嵩松
- 申请号：
- CN201610876596.0
- 公开号：
- CN106377277B
- 申请日:
- 2016.30.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种医学成像设备的晶体条位置校正方法,包括:分别获得相对设置的两个探测块中每对正对晶体条所接收的采样数据;根据每对正对晶体条所接收的采样数据,得到每对正对晶体条的实际符合孔径响应曲线及其峰值位置;根据晶体条位置得到每对正对晶体条的解析符合孔径响应曲线及其峰值位置;分别获得每对正对晶体条的实际符合孔径响应曲线与理论符合孔径响应曲线的峰值位置的误差,并根据该误差更新每对正对晶体条的位置。本发明解决了探测器模块因受机架阻隔且两两之间紧密接合,难以利用直接方法测量其实际空间位置及安装误差的问题,有效提高了系统矩阵精确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
