用于成像系统的晶体位置校正方法
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技有限公司
- 发明人:
- 唐嵩松,李小霞
- 申请号：
- CN201610505010.X
- 公开号：
- CN106175807B
- 申请日:
- 2016.30.06
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请公开了一种用于成像系统的晶体位置校正方法,该方法采集不同位置的点源数据,重建并定位之后比较实际CAF响应曲线与理论CAF响应曲线峰值位置之间的偏差以及实际TOF响应曲线零值位置与理论TOF响应曲线零值位置之间的偏差,得到探测器位置误差后,重新计算系统矩阵并重复上述过程,直至探测器定位误差小于所需精度时停止。避免了直接的物理测量所必需的切断电源、拆除系统外壳等复杂工序以及由测量工具和测量方法引入的测量误差。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
