Disclosed is an imaging apparatus for generating data of a phase image based on an interference pattern acquired by a shearing interferometer, including: a differential phase data calculating unit that calculates first differential phase data expressing a change of a phase in a first direction and second differential phase data expressing a change of a phase in a second direction, based on interference pattern data generated by an electromagnetic wave transmitted through a subject； a second-order differential phase data calculating unit that calculates first second-order differential phase data by differentiating the first differential phase data in the first direction, and calculates second second-order differential phase data by differentiating the second differential phase data in the second direction； and a phase data calculating unit that calculates the phase image by solving a second-order differential equation including the first and second second-order differential phase data as functions.La présente invention concerne un appareil d'imagerie destiné à générer des données d'une image de phase sur la base d'un profil d'interférence acquis par un interféromètre de cisaillement, qui comprend : une unité de calcul de données de phase différentielle qui calcule des premières données de phase différentielle exprimant une modification d'une phase dans une première direction et des secondes données de phase différentielle exprimant une modification de phase dans une seconde direction, sur la base des données du profil d'interférence générées par une onde électromagnétique transmise à travers un sujet ； une unité de calcul de données de phase différentielle de second ordre qui calcule des premières données de phase différentielle de second ordre par différenciation des premières données de phase différentielle dans la première direction, et calcule des secondes données de phase différentielle de second ordre par différenciation des secondes données de phase différenti
