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DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DU STRESS
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP12715205.6
公开号:
EP2696754A1
申请日:
2012.04.02
申请国别(地区):
EP
年份:
2014
代理人:
摘要:
A stress-measuring device (10) and method determines a level (15) of stress of a user (1), in particular long-term stress. The stress-measuring device (10) includes an input interface (12) for receiving a skin conductance signal (11) indicating the skin conductance of the user (1), the skin conductance signal (11) over time forming skin conductance trace data (13). The stress-measuring device (10) further includes a processing unit (14) for processing the skin conductance trace data (13). The processing unit (14) determines, over at least a portion of the skin conductance trace data (13), values of a rise time (tr) between at least two different points of the skin conductance trace data (13), a frequency distribution of the rise time (tr) values, and the level (15) of stress of the user (1) based on the determined frequency distribution.La présente invention concerne un dispositif de mesure du stress (10) et un procédé de détermination d'un niveau (15) de stress d'un utilisateur (1), en particulier du stress à long terme. Le dispositif de mesure du stress (10) comprend une interface d'entrée (12) destinée à recevoir un signal de conductance de la peau (11) indiquant la conductance de la peau de l'utilisateur (1), le signal de conductance de la peau (11) formant dans le temps dans des données de tracé de conductance (13). Le dispositif de mesure du stress (10) comprend en outre une unité de traitement (14) destinée à traiter les données de tracé de conductance (13), l'unité de traitement (14) étant adaptée à déterminer, au moins sur une partie des données de tracé de conductance (13), les valeurs d'un temps de montée (tm) entre au moins deux points différents des données de tracé de conductance de la peau (13), pour déterminer une distribution de fréquence des valeurs de temps de montée (tm), et pour déterminer le niveau (15) de stress de l'utilisateur (1) en se basant sur la distribution de fréquence déterminée.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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