DE VRIES, Jan, Johannes, Gerardus;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.;OUWERKERK, Martin
发明人:
DE VRIES, Jan, Johannes, Gerardus,OUWERKERK, Martin
申请号：
IBIB2012/051592
公开号：
WO2012/140537A1
申请日:
2012.04.02
申请国别(地区):
IB
年份:
2012
代理人:
摘要：
The present invention relates to a stress-measuring device (10) and method for determining a level (15) of stress of a user (1), in particular long-term stress. The stress- measuring device (10) comprises an input interface (12) for receiving a skin conductance signal (11) indicating the skin conductance of the user (1), the skin conductance signal (11) over time forming skin conductance trace data (13). The stress-measuring device (10) further comprises a processing unit (14) for processing the skin conductance trace data (13), the processing unit (14) adapted to determine, over at least a portion of the skin conductance trace data (13), values of a rise time (tr) between at least two different points of the skin conductance trace data (13), to determine a frequency distribution of the rise time (tr) values, and to determine the level (15) of stress of the user (1) based on the determined frequency distribution.La présente invention concerne un dispositif de mesure du stress (10) et un procédé de détermination d'un niveau (15) de stress d'un utilisateur (1), en particulier du stress à long terme. Le dispositif de mesure du stress (10) comprend une interface d'entrée (12) destinée à recevoir un signal de conductance de la peau (11) indiquant la conductance de la peau de l'utilisateur (1), le signal de conductance de la peau (11) formant dans le temps dans des données de tracé de conductance (13). Le dispositif de mesure du stress (10) comprend en outre une unité de traitement (14) destinée à traiter les données de tracé de conductance (13), l'unité de traitement (14) étant adaptée à déterminer, au moins sur une partie des données de tracé de conductance (13), les valeurs d'un temps de montée (tm) entre au moins deux points différents des données de tracé de conductance de la peau (13), pour déterminer une distribution de fréquence des valeurs de temps de montée (tm), et pour déterminer le niveau (15) de stress de l'utilisateur (1) en se basant sur la distribution de
