PROBLEM TO BE SOLVED: To certainly obtain an intensity change in each pixel to always obtain an excellent phase contrast image.SOLUTION: This radiation imaging system includes an X-ray source 11, first and second absorption type gratings 31, 32, and a flat panel detector (FPD) 30, and obtains the phase contrast image of a test object H by performing imaging while moving the second absorption type grating 32 in an x direction relatively to the first absorption type grating 31. The following expression is satisfied where p1 denotes a period of a first pattern image at a position of the second absorption type grating 32, and p2 denotes a substantial grating pitch of the second absorption type grating 32, and DX denotes a dimension related to the x direction of an X-ray reception area of each pixel of the FPD 30. Here, "n" denotes a positive integer. DX&nen×(p1×p2)/p1-p2.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】各画素で強度変化が確実に得られ、常に良好な位相コントラスト画像を得ることを可能とする。【解決手段】X線源11と、第1及び第2の吸収型格子31,32と、フラットパネル検出器(FPD)30とを備え、第1の吸収型格子31に対して第2の吸収型格子32をx方向に移動させながら撮影を行うことにより、被検体Hの位相コントラスト画像を取得するX線撮影システムである。第2の吸収型格子32の位置における第1のパターン像の周期をp1’、第2の吸収型格子32の実質的な格子ピッチをp2’、FPD30の各画素のX線受光領域のx方向に関する大きさをDXとした場合に、下式を満たすことを特徴とする。ここで、nは正の整数である。DX≠n×(p1’×p2’)/|p1’-p2’|【選択図】図5
