校准装置和校准方法
- 专利权人:
- 奥林巴斯株式会社
- 发明人:
- 伊藤辽佑
- 申请号：
- CN201280043402.9
- 公开号：
- CN103796567B
- 申请日:
- 2012.09.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 提供能够通过1次操作来进行多个校准项目的校准装置和校准方法。具有标准反射板（43），该标准反射板（43）在测定探针（3）插入到插入部（41a）中的状态下配置在与测定探针（3）的前端部隔开规定距离L的位置，并且在该标准反射板（43）中，在测定对象波长范围内，反射率在照射面内相同，并且反射特性稳定，与标准反射板（43）使用规定距离L确定的空间相干长度Lsc相比，构成标准反射板（43）的材料的散射平均自由行程较大。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
