光学测定装置和校正方法
- 专利权人:
- 奥林巴斯株式会社
- 发明人:
- 高冈秀行,伊藤辽佑
- 申请号：
- CN201280044319.3
- 公开号：
- CN103796568A
- 申请日:
- 2012.09.19
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 提供能够容易地进行校正处理的光学测定装置和校正方法。光学测定装置具有：记录部（26），其记录通过测定探针（3）对具有与样本（S1）相同的折射率的第1介质照射照明光时的第1检测强度与通过测定探针（3）对第2介质照射照明光时的第2检测强度的比值；以及运算部（271），其根据通过测定探针（3）对第2介质照射照明光时的第3检测强度与记录部（26）记录的比值之积，运算在对来自样本（S1）的照明光的返回光进行校正时使用的背景光的背景强度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
