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基于分组注意力残差网络的锥束X射线发光断层成像方法
专利权人:
天津大学
发明人:
高峰,周仲兴,郭司琪
申请号:
CN202110532495.2
公开号:
CN113288188A
申请日:
2021.05.17
申请国别(地区):
CN
年份:
2021
代理人:
摘要:
本发明涉及一种基于分组注意力残差网络的锥束X射线发光断层成像方法,包括下列步骤:1)生成模拟数据集:根据锥束XLCT成像系统,构建相应的仿真系统,包括仿体构建及光源探测器布配方案设计;2)数据集预处理:将仿真实验光通量密度值Φ作为分组注意力残差网络的输入特征,纳米荧光粒子的密度分布ρ作为标签数据,对输入数据即仿真实验光通量密度值Φ进行归一化处理;3)基于ResNet18残差网络进行改进,搭建分组注意力残差网络;4)训练网络;5)重建图像:通过实验获取不同情况下CCD探测器的仿体实验光通量密度值,并进行归一化处理,并输入到保存好的网络模型,实现XLCT图像三维重建。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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