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電位計測装置
专利权人:
富士通株式会社
发明人:
山中 一典,栗原 和明
申请号:
JP2012549499
公开号:
JPWO2012085996A1
申请日:
2010.12.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
I measure easily the potential of the measurement points of the measured body. Potential measuring device (10) has a (13) and measurement section (12) (11), generator detector. Provided on the surface of (100) measured object, detector (11) detects a second signal including a first signal of a first frequency range from the measured object (100). Generator (12) generates a fourth signal by averaging the third signal of the second frequency range of the first frequency range. Measuring unit (13) measures on the basis of the potential of the fourth signal generated by the generating section (12), the potential of the first signal included in the second signal detected by (11) detector.被計測体の計測点の電位を簡便に計測する。電位計測装置(10)は、検出部(11)、生成部(12)及び計測部(13)を有する。検出部(11)は、被計測体(100)の表面に設けられ、被計測体(100)から第1周波数範囲の第1信号を含む第2信号を検出する。生成部(12)は、第1周波数範囲外の第2周波数範囲の第3信号を平均化して第4信号を生成する。計測部(13)は、検出部(11)によって検出された第2信号に含まれる第1信号の電位を、生成部(12)によって生成された第4信号の電位を基準にして計測する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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