The endoscope system 1 includes a head portion 4 a, a connector portion 4 c, and a CCU 5. The head section 4a has a test signal generating section 12 for generating a first test pattern signal. The connector unit 4c includes a test signal generator 22 for generating a second test pattern signal which is the same pattern signal as the first test pattern, a comparison comparing the first test pattern signal and the second test pattern signal A first comparison circuit for outputting a result, and a test signal generation section 24 for generating a third test pattern signal. The CCU 5 generates a fourth test pattern signal which is the same pattern signal as the third test pattern, a signal generator 32, a comparison result obtained by comparing the third test pattern signal with the fourth test pattern signal And a second comparator circuit for outputting the output signal.内視鏡システム1は、ヘッド部4aと、コネクタ部4cと、CCU5と有する。ヘッド部4aは、第1のテストパターン信号を生成するテスト信号生成部12を有する。コネクタ部4cは、第1のテストパターンと同じパターン信号である第2のテストパターン信号を生成するテスト信号生成部22と、第1のテストパターン信号と第2のテストパターン信号とを比較した比較結果を出力する第1の比較回路と、第3のテストパターン信号を生成するテスト信号生成部24とを有する。CCU5は、第3のテストパターンと同じパターン信号である第4のテストパターン信号を生成する津と信号生成部32と、第3のテストパターン信号と第4のテストパターン信号とを比較した比較結果を出力する第2の比較回路とを有する。
