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電子写真感光体の製造方法における検査方法
- 专利权人:
- キヤノン株式会社
- 发明人:
- 石塚 由香,奥田 篤,藤井 淳史,丸山 晃洋,中村 延博,山本 友紀,佐久間 和子
- 申请号：
- JP20150233599
- 公开号：
- JP2017102194(A)
- 申请日:
- 2015.11.30
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】電子写真感光体の第二中間層の膜厚ムラや第二中間層を塗布した後に第二中間層の一部を剥離した場合の膜残りを精度よく欠陥として判断できる電子写真感光体の製造方法における検査方法を提供する。【解決手段】支持体、第一中間層、第二中間層、電荷発生層、表面層をこの順に有し、第二中間層の表面粗さ（Ｒｚ）／第一中間層の表面粗さ（Ｒｚ）≦０．９であり、該電子写真感光体に、６２０ｎｍ以上、８３０ｎｍ以下の波長にピークを有し、かつ該ピークの半値幅が１０ｎｍ以上である光を照射し、該電子写真感光体に照射した光の反射光のうち、５５０ｎｍ以上、８３０ｎｍ以下の光を検出し、該検出された光の強度差により、電子写真感光体の欠陥の有無を検査する検査工程を有することを特徴とする電子写真感光体の製造方法におけ
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
