The present invention relates to measuring breast thickness in mammography. In order to provide improved height measurements with high accuracy, a mammography imaging system (10) is provided that comprises a breast support device (12), an X-ray imaging device (14), and a processing device (16). The breast support device comprises a support surface (18) and at least one compression element (20). A distance measuring device (22) is provided to determine the current distance between the support surface and the compression element, and to provide the current distance as a first breast height. The X-ray imaging device is configured to provide spectral X-ray image data of a breast arranged between the support surface and the compression element. The processing device is configured to perform spectral material decomposition based on the spectral image data, and to calculate a second breast height. Further, the processing device is configured to compare the first breast height and the second breast height to determine and to provide a height difference value.La présente invention concerne la mesure de lépaisseur du sein en mammographie. Afin de produire des mesures de hauteur améliorées avec une précision élevée, un système dimagerie mammographique (10) est décrit qui comprend un dispositif de support de sein (12), un dispositif dimagerie à rayons X (14), et un dispositif de traitement (16). Le dispositif de support de sein comprend une surface de support (18) et au moins un élément de compression (20). Un dispositif de mesure de distance (22) est disposé pour déterminer la distance actuelle entre la surface de support et lélément de compression, et pour fournir la distance actuelle en tant que première hauteur de sein. Le dispositif dimagerie à rayons X est configuré pour fournir des données dimage radiographique spectrale dun sein disposé entre la surface de support et lélément de compression. Le dispositif de traitement est configuré pour effectuer une décomposition maté
