PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray imaging apparatus capable of enhancing visibility of a result of detection by a detector in comparison with conventional one.SOLUTION: An X-ray imaging apparatus 100 includes: a first grating 104 that forms an interference pattern by diffracting an X-ray from an X-ray source a second grating 105 that shields a part of the X-ray forming the interference pattern and a detector 106 that detects the X-ray from the second grating. The second grating includes: a first shield grating part where shield parts and transmission parts are arranged with a first period A and a second shield grating part where shield parts and transmission parts are arranged with a second period B. The first period A is expressed by a formula of A=ps×n×Ls/(Ls+Lf) where ps denotes a size of pixel of the detector, n denotes a positive integer, Ls denotes a distance from the X-ray source to the first shield grating part, and Lf denotes a distance from the first shield grating to the detector.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】検出器による検出結果のビジビリティを従来よりも高くすることができるX線撮像装置を提供すること。【解決手段】X線撮像装置100は、X線源からのX線を回折して干渉パターンを形成する第1の格子104と、干渉パターンを形成するX線の一部を遮蔽する第2の格子105と、第2の格子からのX線を検出する検出器106と、を備える。第2の格子は、遮蔽部と透過部とが第1の周期Aで配列した第1の遮蔽格子部と、遮蔽部と透過部とが第2の周期Bで配列した第2の遮蔽格子部とを持つ。第1の周期Aは下記式で表される。A=ps x n x Ls/(Ls+Lf)但し、検出器が持つ画素のサイズをps、nを正の整数、LsをX線源から第1の遮蔽格子部までの距離、Lfを第1の遮蔽格子部から検出器までの距離とする。【選択図】図1
