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Phase contrast imaging device
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ
发明人:
フレデンバリ エーリック,オースルンド マグヌス
申请号:
JP2014517686
公开号:
JP2014518112A
申请日:
2012.06.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
An x-ray imaging system includes an x-ray source, an x-ray detector including a plurality of detector strips arranged in a first direction of the x-ray detector. Each detector strip includes a plurality of detector pixels arranged in a second direction of the x-ray detector. A phase grating and a plurality of analyzer gratings including grating slits are disposed between the x-ray source and detectors. The x-ray source and the x-ray detector are adapted to perform a scanning movement in relation to an object in the first direction, in order to scan the object. Each of the plurality of analyzer gratings is arranged in association with a respective detector strip with the grating slits arranged in the second direction. The grating slits of the analyzer gratings of the detector strips are offset relative to each other in the second direction.X線イメージングシステムは、X線源と、X線検出器の第1の方向に配される複数の検出器ストリップを有する該X線検出器であって、各検出器ストリップが更に、X線検出器の第2の方向に配される複数の検出器ピクセルを含む、X線検出器と、位相格子と、格子スリットを有する複数のアナライザ格子と、を有し、X線源及びX線検出器は、対象をスキャンするために、第1の方向において対象に対するスキャニング移動を実施するように適応され、アナライザ格子は、X線源とX線検出器との間に配され、複数のアナライザ格子162の各々は、第2の方向に配される格子スリットを有する個々の検出器ストリップに関連付けて配され、前記検出器ストリップのアナライザ格子の格子スリットは、第2の方向において互い変位されている。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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