基于遗传算法的发光材料组合试样库数据分析方法
- 专利权人:
- 西安电子科技大学
- 发明人:
- 张显,王丹琴,常进
- 申请号：
- CN201410438160.4
- 公开号：
- CN104181141B
- 申请日:
- 2014.08.30
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 田文英`王品华
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于遗传算法的发光材料组合试样库数据分析方法，主要解决现有技术中不能实现预测出最优发光材料的具体组分问题。本发明包括：1.建立发光材料组合试样库、2.数据采集和预处理、3.建立发光强度优化模型、4.求解优化模型、5.解码、6.计算最优解、7.输出结果。本发明通过对发光材料组合试样库数据的分析，并充分利用组合试样库试样组成与所测数据之间的联系，可以得到最优发光强度材料的预测组分。利用遗传算法求解优化模型，通过选择、交叉、变异操作，得到发光强度优化模型的解是全局最优解而不是局部最优解，从而解决了传统优化方法陷入局部最优解的缺陷。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
