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一种激发荧光断层成像重建方法
专利权人:
西安电子科技大学
发明人:
陈多芳,梁继民,李瑶,邱光辉,陈雪利,田捷
申请号:
CN201510041349.4
公开号:
CN104586366B
申请日:
2015.01.27
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明公开了一种激发荧光断层成像重建方法,包括以下步骤:S1:基于光传输模型和有限元理论,将成像对象的光学特性参数和解剖结构信息作为先验信息,建立表面的测量数据与成像对象内部荧光目标分布的系统方程;S2:对S1建立的系统方程进行预处理,使得预处理后的系统方程中的稀疏矩阵各列相互正交;S3:融合光源空间分布的稀疏特性,从S1中系统方程中选取若干列,构建新的系数矩阵和新的系统方程;S4:将S3中新的系统方程转化为有约束条件的极小化问题,采用联合代数迭代方法对新的系统方程进行求解,从而获得成像对象内部的荧光目标的三维分布与浓度。本发明的有益效果:融合了荧光目标空间分布的稀疏特性,增加了先验信息,可提高重建精度;对系统方程进行预处理,系统方程的系数矩阵各列相互正交,可加快算法收敛,提高重建速度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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