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개선된 첩포 시험법
专利权人:
COWAY CO.; LTD.
发明人:
KIM, SUNG WOO,김성우,HAM, SU JIN,함수진,YOO, BYOUNG SAM,유병삼,CHO, JIN HUN,조진훈
申请号:
KR1020110117332
公开号:
KR1020130052097A
申请日:
2011.11.11
申请国别(地区):
KR
年份:
2013
代理人:
摘要:
PURPOSE: An improved patch test is provided to improve reproducibility and accuracy of a result by putting a sample into a chamber, evaporating, and attaching a patch when the evaporation amount of the sample is 0 or less.CONSTITUTION: A patch test is performed using a patch containing a plurality of chambers which are conjugated to an adhesive support. The patch test comprises a step of putting a sample in a chamber a step of evaporating liquid ingredient at 25 deg. C and at a relative humidity of 40% and a step of attaching a patch onto the skin when the evaporation amount of the sample is 0 or less. The evaporation amount is measured every 10 minutes.COPYRIGHT KIPO 2013본 발명은 개선된 첩포 시험법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시료를 수용할 수 있는 다수의 챔버가 점착성 지지체에 결합된 패취를 이용한 첩포 시험(patch test)에 있어서, 시료를 챔버에 투입하여 액상 성분을 증발시킨 후 증발계로 측정한 시료의 증발량이 0 이하가 되면 패취를 피부에 첩포하여 시험하는 첩포 시험법에 관한 것이다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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