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Berechnung eines Untersuchungsparameters
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
FLOHR, THOMAS,Thomas Flohr,SCHMIDT, BERNHARD,Bernhard Schmidt
申请号:
DE102013220018
公开号:
DE102013220018A1
申请日:
2013.10.02
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein System zur Berechnung eines Untersuchungsparameters. Die Erfindung umfasst den Schritt S-A: Aufnehmen eines ersten sowie eines zweiten medizinischen Bildes, wobei die Bilder jeweils einen identischen Untersuchungsbereich erfassen sie umfasst weiterhin den Schritt S-BS: Bestimmen des Untersuchungsbereiches in dem ersten Bild durch Segmentieren des ersten Bildes. Die Erfindung beruht auf der Idee, in dem Schritt S-rR das erste sowie des zweite Bild räumlich zu registrieren, um so in dem Schritt S-BP den Untersuchungsbereich in dem zweiten Bild zu bestimmen, indem der segmentierte Untersuchungsbereich aus dem ersten Bild in das zweite Bild projiziert wird. Dadurch wird, insbesondere bei einer geringeren Bildqualität des zweiten Bildes gegenüber dem ersten Bild, die Zuverlässigkeit der Bestimmung des Untersuchungsbereiches in dem zweiten Bild erhöht. Daher wird in dem Schritt S-BA auch die Zuverlässigkeit der Berechnung eines Untersuchungsparameters (UP) durch Analysieren des Untersuchungsbereiches in dem zweiten Bild erhöht.The method involves receiving (S-A) two medical images that are detected in an identical examination region, determining (S-BS) an examination zone in the first image by segmenting the first image, and spatially registering (S-rR) the first and the second images. An examination area in the second image is determined (S-BP) through a projection of the segmented examination area or information derived from the first image into the second image. A study parameter (UP) is calculated (S-BA) by analyzing the study area in the second image. Independent claims are included for the following: (1) a computer program product for calculating inspection parameter (2) a computer-readable medium storing program for calculating inspection parameter and (3) a system for calculating inspection parameter.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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