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粒子複合分析装置の校正方法及び粒子複合分析装置
- 专利权人:
- 富士電機株式会社
- 发明人:
- 長谷川 祥樹,小泉 和裕,浅野 貴正,武田 直希
- 申请号：
- JP20150125994
- 公开号：
- JP2017009466(A)
- 申请日:
- 2015.06.23
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】測定対象粒子を多角的に分析すのに適した粒子複合分析装置において、装置の信頼度を維持、向上させるために定期的に行うことが必要な装置の校正の操作を、簡便かつ正確に行うことができるようにした、粒子複合分析装置の校正方法及び粒子複合分析装置を提供する。【解決手段】この粒子複合分析装置では、粒子計測装置１０と粒子成分分析装置２０とを備え、粒子計測装置１０と粒子成分分析装置２０に、少なくとも数、大きさ、及び成分が既知の校正粒子を導入してそれぞれの分析を行い、粒子計測装置１０により測定された校正粒子の数と大きさに基づいて、粒子計測装置１０の感度を校正し、粒子成分分析装置２０により測定された校正粒子の成分量に基づいて、粒子成分分析装置２０の感度を校正する。また、粒子成分分析装置２０
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
